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dc.contributor.advisorFernández, Félix E.
dc.contributor.authorHernández-Pérez, José Alberto
dc.date.accessioned2019-04-15T17:19:21Z
dc.date.available2019-04-15T17:19:21Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/handle/20.500.11801/2056
dc.description.abstractThe purpose of this work is to evaluate the structure, and optical, electrical and magnetic properties of thin films of CuAlO2 and CuAlO2 doped with Mn and Fe grown sapphire substrate with (0001) orientation. For this work CuAl1−xMnxO2 with (x = 0.02 and 0.05), CuAl1−xFexO2 with (x = 0.05, 0.1, 0.2 and 0.3), CuO, Fe2O3 and Mn5O8 targets were prepared, with which thin films were grown by pulsed laser deposition (PLD) from the sintered targets and multilayer technique. The characterization and comparison of resulting films were made by multiple techniques. Its structure was analyzed by x-ray diffraction (XRD) using CuKα radiation, while showed that the thin films grow in a epitaxial arrangement with respect to the sapphire (0001) substrate. Values between 0.0391 and 0.0906 S cm −1 were measurement for the conductivity of samples of CuAl1−xFexO2 with concentrations between 5 and 30 % atomic of Fe, using the van der Pauw technique. Samples doped with Mn were not measured due to their high resistivity. Measurements of transmittance and absorbance a band gap of 3.58 eV was obtained, and samples had a high transmittance, in spite of the high content of Fe in the thin films. The thin films grown with the multilayer technique show good conductivity, but poor surface morphology and poor optical quality. The study of the surface morphology of Fe- doped thin films show an increase in the grain size and roughness with increasing concentration of Fe. Finally, measurements of magnetic properties yielded an overall diamagnetic behavior, overlapping with a small diamagnetic component in the case of 10 % atomic Fe and decreasing with increasing Fe concentración.en_US
dc.description.abstractEl propósito de este trabajo se centró en evaluar la estructura y propiedades ópticas, eléctricas y magnéticas de películas delgadas de CuAlO2 y CuAlO2 dopado con Mn y Fe depositadas sobre un substrato de zafiro con orientación (0001). Para ello fueron elaborados blancos de CuAl1−xMnxO2 con (x = 0.02 y 0.05), CuAl1−xFexO2 con (x = 0.05, 0.1, 0.2 y 0.3), CuO, Fe2O3 y Mn5O8, con los que se crecieron películas delgadas utilizando la técnica de deposición por laser pulsado (PLD) a partir de blancos sinterizados y en multicapas. La caracterización y comparación de los materiales obtenidos se llevó a cabo mediante varias técnicas. Su estructura fue analizada por difracción de rayos x (XRD) usando radiación CuKα, encontrándose que las películas crecen con un arreglo epitaxial con respecto al substrato de zafiro (0001). En las medidas eléctricas se encontraron valores entre 0.0391 y 0.0906 S cm−1 para la conductividad de muestras de CuAl1−xFexO2 con concentraciones entre 5 y 30% atómico de Fe, usando la técnica de van der Pauw. Las muestras con dopaje de Mn no fueron medidas debido a su alta resistividad. Con medidas de transmitancia y absorbancia se obtuvo una banda prohibida de 3.58 eV y una transmitancia alta considerando el alto contenido de Fe en la película. Las películas crecidas con la técnica de multicapas muestran buena conductividad, pero pobre morfología superficial y calidad óptica. El estudio de la morfología de la superficie en películas dopadas con Fe mostró un aumento en el tamaño de grano y la rugosidad con el aumento en la concentración de Fe. Finalmente se llevaron a cabo medidas de propiedades magnéticas, de las cuales se obtuvo un comportamiento en general diamagnético, superpuesto por un pequeño componente diamagnético para el caso de 10% atómico de Fe, y disminuyendo con el aumento en la concentración de Fe.en_US
dc.language.isoEspañolen_US
dc.titleEstudio comparativo entre películas delgadas de CuAlO2 con dopajes de Mn y Feen_US
dc.typeThesisen_US
dc.rights.licenseAll rights reserveden_US
dc.rights.holder(c) 2009 José Alberto Hernández-Pérezen_US
dc.contributor.committeeJiménez, Héctor
dc.contributor.committeeRamos, Rafael A.
dc.contributor.representativeSundaram, Paul
thesis.degree.levelM.S.en_US
thesis.degree.disciplinePhysicsen_US
dc.contributor.collegeCollege of Arts and Science - Scienceen_US
dc.contributor.departmentDepartment of Physicsen_US
dc.description.graduationYear2009en_US


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