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dc.contributor.advisorPalomera-García, Rogelio
dc.contributor.authorCoutiolenc-Valdés, Sergio
dc.date.accessioned2019-05-14T14:54:10Z
dc.date.available2019-05-14T14:54:10Z
dc.date.issued2004
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.11801/2136
dc.description.abstractTest software is widely used to perform electrical testing regardless of the hardware platform. From the entire hardware platform, the Very Low Cost Testers (VLCT) are a practical low cost options for manufacturing and education purposes, because they are custom-made. From the Software platform, LabView® (National Instruments Company) is presently one of most used software for testing and measurements in the world. In spite of the existence of test algorithms and methods which are inescapable steps of the electrical testing art, there is a lack of algorithms focused in testing current-mode Circuits using VLCT and LabView. Current-mode circuits are becoming the more important players in the design of low power – low voltage circuits, thereby making necessary to have such algorithms available. The Purpose of this Project is to generate algorithms and methods using the VLCT donated by Texas Instruments (TI) and LabView® in order to perform electrical testing of Current-Mode Circuits. The most useful formula to solve complex problems is by applying the proverb: “divide and conquer”. Following this philosophy, a basic and small circuit that holds all the principles of current-mode circuits is the best option to develop algorithms and programs. In consequence, the current project framework comprises only the basic current-mirrors, because with short algorithms and programs is possible to create larger programs for complex circuits. Only DC stimuli will be used. The AC stimuli are out of the scope of this project, it should be proposed for future research. The contributions of this project are: Procedures and algorithms for testing basic current-mirrors using VLCT. Integration between VLCT and LabView using a virtual instrument. Test programs in Pascal programming language for VLCT that can be used to create more complex programs. Example of Pascal programming language for D.O.S. that can be used to compile and create an application or executable file and that can be exported to VLCT Pascal programming platform with minor changes. These changes will be exposed later in this text.en_US
dc.description.abstractLos programas de prueba son ampliamente utilizados, sin importar la plataforma de Hardware sobre la cual se trabaje. Dentro de la variedad disponible de Hardware, los “Very Low Cost Testers” (VLCT) constituyen, la solución práctica de bajo costo para manufactura y educación; esto se debe a que estas plataformas de prueba se construyen a la medida de las necesidades. En el campo del Software, LabView de la compañía National Instruments (NI) es actualmente uno de los programas mas usados para mediciones y pruebas en el mundo. A pesar de que los métodos y algoritmos son pasos indispensables dentro del arte de la prueba eléctrica, hay una sensible ausencia de éstos, en lo que respecta a circuitos que funcionen en modo corriente utilizando el VLCT y LabView. Esto es importante debido al uso extendido de circuitos en modo corriente, por ejemplo en equipos de muy bajo voltaje y muy baja potencia. Por lo tanto, el propósito de este proyecto es generar algoritmos y métodos de prueba usando el VLCT de la compañía Texas Instruments (TI) y LabView con el objetivo de realizar pruebas eléctricas de circuitos que funcionen en modo corriente. La fórmula mas útil para resolver problemas complejos es el de dividir y vencer. Siguiendo esta filosofía, la mejor estrategia es escoger un circuito básico y pequeño que tenga todas las características de los circuitos en modo corriente. Por lo tanto el marco de este proyecto comprende solamente a circuitos espejos de corriente básicos, debido a que con programas pequenos es posible crear programas más grandes para circuitos complejos. El objetivo del proyecto es la generación de métodos de prueba. Solamente se aplican estímulos de corriente directa. Los estímulos de corriente alterna están fuera del alcance de este proyecto y se sugieren para investigaciones futuras. Las contribuciones de este proyecto son: Procedimientos y algoritmos para pruebas eléctricas a espejos de corriente usando el VLCT. Integración entre VLCT y LabView. Programas de prueba en lenguaje Pascal que pueden ser usados para crear programas más complejos. Programas de prueba en lenguaje Pascal para el sistema operativo de Microsoft que pueden ser usados para crear un archivo ejecutable.en_US
dc.language.isoEnglishen_US
dc.subjectCurrent-mode integrated circuitsen_US
dc.subjectlabview® test platformen_US
dc.titleTesting methods for current-mode integrated circuits under the very low cost tester (v lct) and labview® test platformen_US
dc.typeThesisen_US
dc.rights.licenseAll rights reserveden_US
dc.rights.holder(c) 2004 Sergio Coutiolenc Valdésen_US
dc.contributor.committeeJimenez Cedeño, Manuel
dc.contributor.committeeBeauchamp, Gerson
dc.contributor.representativeArocha Ordoñez, Marco A.
thesis.degree.levelM.S.en_US
thesis.degree.disciplineElectrical Engineeringen_US
dc.contributor.collegeCollege of Engineeringen_US
dc.contributor.departmentDepartment of Electrical and Computer Engineeringen_US
dc.description.graduationYear2004en_US


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